8月9日至11日,乐鱼微应邀携全线产品参加于无锡举行的第十一届(2023年)中国半导体设备年会暨半导体设备与核心部件展示会,现场分享成品率提升解决方案。
晶圆级电性测试系统获关注
此次展会中,众多专业观众前来乐鱼微展台交流探讨,其中最近发布的新一代通用型晶圆级电性测试系统T4000获得关注。
乐鱼微团队细致地讲解了T4000 “功能齐全、超高精度、高效稳定、适配性强、强大的服务保障、丰富的算法库”的优势。通过交流,很多化合物半导体企业都表示出了强烈的合作意向。
同时,乐鱼微基于电性测试的高效量产监控解决方案(Advanced PCM Solution)也引得许多关注。Advanced PCM Solution在性价比和测试效率方面具有显著优势,在量产环节中更精准地指向成品率失效的根本原因,并且结合乐鱼微的WAT测试机,可以为Fab客户提供全方位的工艺监控和新设备验证。
此外,8月10日,乐鱼微董事长郑勇军博士应邀出席了“半导体制造技术与设备材料董事长论坛”,分享如何从设计、测试到分析全面提升电性监控效率,实现高质量量产,与行业专家共探未来发展方向。
乐鱼微将积极响应市场的需求,持续创新,提升技术水平,为产业打造完整的成品率提升生态,为客户带来更高的价值,助力行业发展。