乐鱼微参与台湾G.T.I. 2018 Seminar

Semitronix在过去的数年来一直致力于集成电路芯片良品率提升产品研发与技术服务，拥有一套自主知识产权的智能化测试芯片设计平台，以及快速电学测试与数据分析系统，可以为集成电路制造与设计企业提供全流程的成品率提升服务。近年来更是厚积薄发、蓄力创新，Dense Array缺陷探测和Addressable QVCM电容测试等技术已在多个技术节点得到成功验证。

作为G.T.I. 2018 Seminar主办方长期稳定的合作伙伴，Semitronix应邀参与了7月18日在台湾新竹举办的2018年技术研讨会。

此次技术研讨会中，Semitronix延续了G.T.I. 2017 Seminar的演讲主题“PCM/Scribe-line solution”、“Dense-array-ppb level soft failure detection”，详细介绍了近一年内Semitronix在这两项技术中的突破性进展和成果，包括可应用到PCM中精确快速的WAT全套解决方案soft/hard failure探测技术——Dense Array测试芯片。基于主题演讲的延续性和针对性，Semitronix的一系列成果吸引了多家新老客户的目光，他们对技术方案提出了诸多问题并表现出了极大的兴趣，为公司台湾市场的巩固与开拓起到了非常好的作用。

关于G.T.I. Seminar

G.T.I Seminar是由台湾盟佳科技（Grand Technology Inc, 简称GTI）每年举办一次的技术研讨会，主办方盟佳科技是一家专门为半导体芯片和微电子业界提供应用工具和售后服务的高科技公司，Semitronix一直以来通过GTI为多家台湾半导体制造企业提供专业的芯片良品率管理服务和EDA软件工具，与GTI保持着长期、稳定、良好的合作关系。