DAC 2018完美落幕｜Semitronix首次成功亮相DAC会展

6月25日－27日，2018年设计自动化大会（DAC 2018）于美国旧金山Moscone Center成功举办。作为一家专为半导体业界提供性能分析和良率提升解决方案的领先供应商，Semitronix首次携公司电学性能监控系统和成品率提升的相关软、硬件产品亮相DAC 2018。

DAC是全球领先的技术性大会和电子设计自动化商展，主要以电子设计系统（EDA）、嵌入式系统及软件（ESS）和知识产权（IP）为主题，是全球EDA、Foundry、IP提供商的盛会，也是业界公认的电子系统设计和自动化首要会议，向来被誉为“EDA界的奥斯卡”。

本次会展是Semitronix首次参与亮相设计自动化大会，既是首秀，亦是有备而来。Semitronix为与会人员带来了多年积累沉淀的Electrical Characterization Eco-system，重点突出了超高密度测试芯片Dense Array、可寻址测试芯片IP及高速电学参数测试机Semitronix Tester等产品，分享了Semitronix在集成电路芯片领域的创新研究成果。

会展现场，Semitronix不仅与多家海内外客户进行了技术共享和学习交流，其智能化的集成电路设计、制造良品率解决方案也受到了诸多半导体业界公司的关注，并与全球多家知名芯片设计、制造厂商及广大同仁进行了深度的交流。

DAC 2018是半导体行业的全球盛宴，对Semitronix更是一次收获之旅。此次会展，Semitronix的产品及品牌被全球半导体行业所认识、了解和信任，同时也带回了客户发展过程中所遇到的难题，为下一步的技术产品开发找到了方向。未来，我们将更加努力，使公司技术产品满足当前市场客户需求，技术水平再创新高。DAC 2019我们再相见！