• 涵盖DFT全流程工具，支持MCU、AI、GPU、Network、5G基带、AP等不同应用领域芯片和规模的DFT设计实现需求，并且支持系统级测试的In-System-Test，以支持汽车电子的功能安全测试方案。

• 全方位的良率提升方案，可以适应不同工艺、不同Fab的要求。通过DFT Diagnosis和Fab 大数据分析系统，可快速发现影响良率的根因，建立提升方案。

• 从DFT的测试诊断结果，可结合DATAEXP-YMS中多维度的芯片相关数据，如产品版图、WAT/CP/FT测试数据、产线上的工艺步骤、设备、和缺陷等监控数据，从而更精准地识别故障行为和分析故障根因，加速芯片产品上市场的周期。

• DFT自动化实现流程，以及完备的版本验收流程。同时支持RTL和Netlist Flow，并且通过Hierarchical DFT 和Hierarchical ATPG流程，加速产品Time-To-Market；建立完备的版本验收流程，满足各种工艺设计的DPPM要求。

基于产业实际用例，DFTEXP在lowpower 场景下，故障覆盖性能优于标杆工具，在相近的覆盖率的情况下，测试向量数平均减少10%；在某些对lowpower要求较高的设计中，pattern 有近40%的降幅。