Addressable IP
可寻址测试芯片
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当集成电路工艺发展到纳米级工艺后，对测试样本的密度和晶圆成本面积有了更严苛的要求。传统测试芯片因占用面积大，在测量样本量和成本控制两个方面已经满足不了工艺的需求。
乐鱼微根据自身技术优势和经验研发设计了一系列可寻址测试芯片，通过可寻址电路可以提升芯片密度5X~20X，并且保证高精度设计。该系列测试芯片在多个工艺节点得到设计验证，也实际满足了工艺产品开发和制造过程监控的需求，为集成电路纳米级工艺研发提供有力的成品率提升支持。
乐鱼微根据自身技术优势和经验研发设计了一系列可寻址测试芯片，通过可寻址电路可以提升芯片密度5X~20X，并且保证高精度设计。该系列测试芯片在多个工艺节点得到设计验证，也实际满足了工艺产品开发和制造过程监控的需求，为集成电路纳米级工艺研发提供有力的成品率提升支持。
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