成品率提升服务（Yield Ramp Service)

为新工艺节点开发提供定制化服务，实现工艺开发周期的缩短和成品率的提升

服务简介

集成电路产品在更高性能和更低制造成本需求的持续驱动下，需要新技术、新材料和改进工艺进一步支持集成电路的研发与生产，因此成品率提升成为工艺开发和产品导入成功的关键。
乐鱼微基于电性测试的全套解决方案能够极大的缩短研发周期，提升成品率。通过一站式测试芯片设计、电性测试及分析服务，助力客户新工艺/新产品线的成功研发，并极大地缩短研发周期、提高研发质量和成品率。

服务内容

初步设计方案计划: 根据客户的工艺类型、工艺节点以及量产产品的要求，项目组在测试单元结构库的基础上提出初步设计方案计划

生成可交付文档: 利用公司的软件工具（TCMagic、ATCompiler等）和设计方法相结合，生成可提交于客户的芯片版图和具体文档

转化标准测试程式: 在客户流片完成后，项目组将客户端的测试规格文档转化标准测试程式，该测试程式与电学测试设备相结合实现晶圆级的电性测试

生成可提交分析报告: 利用DataExp数据分析平台，对各生产批次的数据进行有效深入分析后，生成可提交的分析报告

寻找影响因素: 通过与客户其他数据，例如设备数据、生产过程数据、物理量测数据及产品结构功能测试等的结合，从制造工艺来源、物理机制、电性表征等多环节打通整个链路，寻找到成品率的影响因素

应用案例

乐鱼微的技术开发服务能够广泛应用到集成电路制造和设计企业，并根据客户的工艺节点和技术路线提供定制化的服务。

案例一：某工厂新工艺开发合作项目

在与该客户新工艺开发合作项目中，乐鱼微团队通过定制的测试芯片，评估工艺过程的风险、不同工艺选择的优劣，以及上述因素对成品率的影响程度；协助客户针对迭代实验工艺进行多批次流片，实现了工艺的快速成熟，在数月之内，实现客户SRAM（静态存储器）成品率的突破。

相关产品：SmtCell / TCMagic / ATCompiler / Dense array / DataExp

在该客户工艺服务项目中，乐鱼微项目组在客户标准单元库基础上，设计了测试芯片评估电路级的速度与功耗等动态参数，根据测试数据分离出了限制产品性能的原因，并根据版图特性，找到了器件模型中的差距来源。相关产品：ATCompiler / DataExp

案例二：某工厂工艺服务项目

在该客户工艺服务项目中，乐鱼微项目组在客户标准单元库基础上，设计了测试芯片评估电路级的速度与功耗等动态参数，根据测试数据分离出了限制产品性能的原因，并根据版图特性，找到了器件模型中的差距来源。