• 测试芯片EDA&IP
  • SmtCell 功能强大的参数化单元创建工具
  • TCMagic 通用型的测试芯片版图自动化设计平台
  • ATCompiler 可寻址测试芯片设计平台
  • Addressable IP 可寻址测试芯片
  • ICSpider 产品芯片成品率和性能诊断
  • Dense Array 超高密度测试芯片设计及快速测试技术
  • HDYS 高密度工艺监测电路IP
• DATAEXP大数据分析平台
  • DE-G 通用半导体数据分析软件
  • DE-YMS 半导体制造全流程数据管理分析系统
  • DE-DMS 缺陷管理分析系统
  • INF-AI 工业智能化集成解决方案
  • INF-ADC 自动缺陷分类系统
  • DE-TMA Testchip测试数据分析系统
  • DE-RF RF数据分析软件
  • DE-FDC 设备监控系统
  • DE-SPC 统计过程控制系统
• DFM软件
  • CMPEXP 高效CMP建模与仿真工具
  • Virtual Yield 芯片良率建模工具
• DFT软件
  • DFTEXP 可测性设计自动化和成品率诊断解决方案

晶圆级电性参数测试设备
• 晶圆级WAT测试设备
  晶圆级电学参数测试设备，为客户提供准确且高度自动化的测试解决方案，用于高效监控工艺
• 晶圆级WLR测试设备
  晶圆级可靠性(WLR)测试设备，快速准确评估元器件是否能保持其电性规格高一致性的能力
• 工艺开发测试设备
  应用于技术研发阶段，大幅提升测试效率和精度

• 成品率提升服务（Yield Ramp Service)
  为新工艺节点开发提供定制化服务，实现工艺开发周期的缩短和成品率的提升
• DFT 设计服务 （DFT Design Service）
  DFT（Design for Test）技术作为业界的标准手段，通过在芯片设计时加入测试专用电路，增加芯片的可测试性