乐鱼微发布新一代T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统

T4000通用型高性能半导体参数测试系统可覆盖LOGIC，CIS, DRAM, SRAM, FLASH, BCD等所有产品的测试需求，支持第三代化合物半导体（SiC/GaN）的参数测试。

该系统拥有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配各类主流WAT探针卡，支持国际上各主要型号的探针台，能够高效完成所有常规WAT参数、常规WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可广泛应用于WAT, WLR及SPICE等领域。

相比市场上同类设备，T4000系列测试每片晶圆所需的时间大幅度缩短，提升幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更适合对成本较为敏感的8英寸及以下产线。因其功能全面、稳定性高、兼容性好，不仅可以用于新的产线，还可用于替代原有晶圆厂老旧的测试设备

T4000系列主要优势

作为乐鱼微自主研发的通用型半导体参数测试系统，T4000系列采用了新一代超低漏电可扩展矩阵开关，具有精度高、速度快、灵活配置的特点，最高支持100 个测量引脚，实现多个module并行测试。由于其结构设计先进，具备完善的自检和自校准功能，因此系统的稳定性和一致性均得到显著提升。T4000系列根据不同需求和使用场景，提供了三个主要型号，方便客户选择。

T4000系列型号配置表

自2010年开始投入研发以来，乐鱼微一直致力于开发和提供技术领先、具有国际竞争力的半导体参数测试系统，现已发展成为国内唯一能够向集成电路量产线供应WAT测试设备的企业。经过20多条客户产线上百台设备的长期验证，乐鱼微的WAT测试设备具有质量可靠、功能齐全、一致性强、测量精度高、测试效率快、交货周期短、服务保障好等特点。此次乐鱼微推出T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统，必将为公司的业务拓展注入新的动能。

未来，乐鱼微将继续打造更多具有国际竞争力的技术创新与差异化产品，为客户和市场提供性能优越、生产效率高和性价比高的测试设备解决方案，为客户创造更大价值。