• 数据统一管理
  支持测试数据、工艺参数、晶圆缺陷数据及图像等
  多类型数据导入并进行统一管理
• 配置数据大屏
  配置有丰富的开箱即用数据大屏（Dashboard），以满足集成电路
  数据分析领域日常查看、监控数据的需求
• 可视化高交互
  平台可视化的高交互应用前端，方便用户多样化灵活分析数据
• 分布式数据管理
  底层数据架构采用了最新的分布式数据库及管理系统，
  确保有效快速的存取/数据整合，具有灵活的扩展性, 
  能够方便地在平台基础上衍生很多其他的应用

成品率数据监控与分析

强大的海量数据整合与底层挖掘, 由智能数据大屏提供高效产品监控及自动良率诊断。同时最新的可视化高交互应用前端, 方便多样化灵活数据探索及下钻分析。

测试芯片分析

可将大量设计DOE信息与芯片电性测试数据结合，通过数据建模快速找到缺陷多发的IC设计版图模式，呈现各个制程节点的工艺窗口，有效可靠地筛选最优的工艺条件、参数。同时，基于DataExp强大的绘图功能与自动生成分析报告功能，用户可以快速分析数据并完成可视化过程，自动生成WAT或In-line数据的分析报告。

RF数据分析

针对RF数据，客户可导入器件参数文件库，并进行参数批量转换、去嵌、取模、取相位等操作，绘制参数斯密斯圆、幅频、相频等曲线。DataExp平台对以前无法分析的海量射频数据进行快速有效地解析和结果展示，是RF数据分析方面一个质的飞跃。